Evidence of Tunneling Driven Random Telegraph Noise in Cryo-CMOS
Autor: | J. Michl, A. Grill, B. Stampfer, D. Waldhoer, C. Schleich, T. Knobloch, E. Ioannidis, H. Enichlmair, R. Minixhofer, B. Kaczer, B. Parvais, B. Govoreanu, I. Radu, T. Grasser, M. Waltl |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Zdroj: | 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |