Measurement Technology for Cross-sectional Image of Microsphere by Proximal Two-beam Optical Tweezers
| Autor: | Hiroaki Kobayashi, Ichirou Ishimaru, Katsumi Ishizaki, Toshiki Yasokawa |
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| Rok vydání: | 2005 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Journal of the Japan Society for Precision Engineering, Contributed Papers. 71:1595-1599 |
| ISSN: | 1881-8722 1348-8724 |
| DOI: | 10.2493/jspe.71.1595 |
| Popis: | ミクロンオーダーの微粒子の内部構造を取得するために, 微粒子回転手法として近接2光束ピンセット方式を提案した. 本手法は光が吸収される際に発生する光圧力を利用することで, 微粒子の屈折率分布によらない回転力付与を可能としている. 本報告では, 微粒子の回転実験を行った結果につき述べる. また, 微粒子 (直径10 μm) の内部欠陥 (1 μm以下) 分布を観察することが可能となった. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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