Analysis for Destruction Property of Micro Dot-patternsby Using an Atomic Force Microscope Tip

Autor:	Norio Moriike, Akira Kawai
Rok vydání:	2000
Předmět:	Materials science Atomic force microscopy Conductive atomic force microscopy Magnetic force microscope Composite material
Zdroj:	Journal of The Adhesion Society of Japan. 36:295-301
ISSN:	2187-4816 0916-4812
DOI:	10.11618/adhesion.36.295
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::caba69d8077ad4f036aad8520ed2a9f0 https://doi.org/10.11618/adhesion.36.295 Zobrazit plný text záznamu