Construction of Test Environments based on Information Extracted from Test Plan and IUT

Autor:	Chumsu Kim, Youngkeun Go, Hyeon Soo Kim, Nak-Jung Choi, Dong Hun Song, Yongjin Seo
Rok vydání:	2019
Předmět:	Computer science Test plan Reliability engineering Test (assessment)
Zdroj:	Journal of KIISE. 46:1122-1132
ISSN:	2383-6296 2383-630X
DOI:	10.5626/jok.2019.46.11.1122
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c92f5f08b20b17dab066a8906ceda5b2 https://doi.org/10.5626/jok.2019.46.11.1122 Zobrazit plný text záznamu