Residual Stress Analysis Around Foreign Object Damage Using Synchrotron Diffraction

Autor:	P. Frankel, Jian Ding, Michael Preuss, Jim Byrne, Philip J. Withers
Rok vydání:	2006
DOI:	10.4028/0-87849-414-6.291
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c92056964168a1231523a4090a47fabb https://doi.org/10.4028/0-87849-414-6.291 Zobrazit plný text záznamu