P‐14: Effects of Film Density on IGZO Based TFT Device Reliability
| Autor: | Jaeyoon Park, Yong-Sung Kim, Ju-Heyuck Baeck, Sehee Park, Jungseok Seo, Jiyong Noh, Kwon-Shik Park, JeomJae Kim, SooYoung Yoon |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | SID Symposium Digest of Technical Papers. 53:1089-1091 |
| ISSN: | 2168-0159 0097-966X |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
Plný text