Characterizing Corruptibility of Logic Locks using ATPG

Autor:	Danielle Duvalsaint, R. D. Shawn Blanton
Rok vydání:	2021
Předmět:	Computer science Parallel computing Automatic test pattern generation
Zdroj:	ITC
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c79667a1378527788073466cf95069e4 https://doi.org/10.1109/itc50571.2021.00030 Zobrazit plný text záznamu