TOF-SIMS Analysis by Means of Cluster Ion Beam

Autor:	Takuya Miyayama
Rok vydání:	2018
Předmět:	Secondary ion mass spectrometry Materials science Low energy Primary (chemistry) Ion beam chemistry Cluster (physics) chemistry.chemical_element Atomic physics Bismuth
Zdroj:	Vacuum and Surface Science. 61:435-439
ISSN:	2433-5843 2433-5835
DOI:	10.1380/vss.61.435
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6775316c49fa0ae8d9e3f4d774734bc https://doi.org/10.1380/vss.61.435 Zobrazit plný text záznamu