Comparison of off-axis electron holography, differential phase contrast, 4D STEM and ptychography for the measurement of atomic or mesoscopic electric fields
Autor: | Humboldt-Universität zu Berlin, Benedikt Haas |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Proceedings of the European Microscopy Congress 2020. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |