Integrated GaN HEMT Cascode Power Module Stability Analysis under Negative Gate Bias Stress for Power Electronic Applications
| Autor: | Surya Elangovan, Wen-Yea Jang, Stone Cheng, Jia-Hao Yao |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IFAC-PapersOnLine. 55:282-286 |
| ISSN: | 2405-8963 |
| DOI: | 10.1016/j.ifacol.2022.10.526 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|