Autor:	Sayandev Mukherjee, Jason Rupe, Jingjie Zhu
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW).
DOI:	10.1109/issrew55968.2022.00093
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c3ea964e33f271be9b66a9bf999876d1 https://doi.org/10.1109/issrew55968.2022.00093 Zobrazit plný text záznamu