New High-Resolution Low-Voltage and High Performance Analytical FIB/SEM System
Autor: | Jaroslav Jiruše, Jan Polster, Tomáš Hrnčíř, Martin Haničinec, Miloslav Havelka |
---|---|
Rok vydání: | 2014 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 20:1104-1105 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |