Effects of Collected Charge and Drain Area on SE Response of SRAMs at the 5-nm FinFET Node
Autor: | N.J. Pieper, Y. Xiong, D.R. Ball, J. Pasternak, B.L. Bhuva |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Zdroj: | 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |