‘Nano-machining’ using a focused ion beam

Autor:	L C I Campbell, D T Foord, C J Humphreys
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c06b5adea0782ecc33622d2d2bb42178 https://doi.org/10.1201/9781003063056-170 Zobrazit plný text záznamu