Newly developed UHV-FE-HR-TEM for particle surface studies

Autor:	Y Kondo, H Ohnishi, Q Ru, H Kimata, K Takayanagi
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
DOI:	10.1201/9781003063056-62
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bfdf09e6273a0b063e9a1776808166df https://doi.org/10.1201/9781003063056-62 Zobrazit plný text záznamu