Fault Diagnosis in Power Line Inspection Using Normalized Multihierarchy Embedding Matching

Autor:	Xinyu Liu, Xiren Miao, Hao Jiang, Jing Chen, Zhenghua Chen
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Instrumentation
Zdroj:	IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 72:1-10
ISSN:	1557-9662 0018-9456
DOI:	10.1109/tim.2023.3238696
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bdbf94f7b40df26837cce269acd24926 https://doi.org/10.1109/tim.2023.3238696 Zobrazit plný text záznamu