Improving Trace Element Analysis Precision By Not Using Off-Peak Measurements

Autor:	John T. Armstrong, John J. Donovan
Rok vydání:	2015
Předmět:	Materials science Mineralogy Trace element analysis Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 21:1445-1446
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927615008004
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bce71225c5515985b3188e596127d8ac https://doi.org/10.1017/s1431927615008004 Zobrazit plný text záznamu