Estimation of life and Reliability of Electronic Product
Autor: | Govind R. Kunkolienkar, Jerald Leo, Ramesh E Patil |
---|---|
Rok vydání: | 2017 |
Předmět: | |
Zdroj: | IJIREEICE. 5:21-26 |
ISSN: | 2321-2004 |
DOI: | 10.17148/ijireeice/ncaee.2017.05 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |