Characterization of Si/Si1−xGex/Si quantum wells by space-charge spectroscopy

Autor:	Hermann G. Grimmeiss, H.P. Zeindl, P. Schley, H. Frankenfeld, Klaus Schmalz, I.N. Yassievich, H. J. Osten, W. Mehr, Holger Rucker
Rok vydání:	1994
Předmět:	Physics Quantum-optical spectroscopy Atomic physics Spectroscopy Space charge Quantum well Characterization (materials science)
Zdroj:	Physical Review B. 50:14287-14301
ISSN:	1095-3795 0163-1829
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ba4dd5eede82823a5ee85f66b1a23ae3 https://doi.org/10.1103/physrevb.50.14287 Zobrazit plný text záznamu