Autor:	Dennis C. Bley, James G. Droppo, Vitaly A. Eremenko, Regina Lundgren
Rok vydání:	2003
Zdroj:	Risk Methodologies for Technological Legacies ISBN: 9781402012587
DOI:	10.1007/978-94-010-0097-0_1
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b9b333ece480294de3e6452159418cf6 https://doi.org/10.1007/978-94-010-0097-0_1 Zobrazit plný text záznamu