Correlation of Physical and Information Entropies in Reliability Theory for Nanosize Elements

Autor:	N. V. Chernyaev, T. D. Zhukova, V. S. Kozhevnikov, I. V. Matyushkin
Rok vydání:	2019
Předmět:	Correlation Reliability theory Statistical physics Microbiology Mathematics
Zdroj:	Proceedings of Universities. Electronics. 24:589-600
ISSN:	2587-9960 1561-5405
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b7997d31c93ca3f74aa1c117b7223544 https://doi.org/10.24151/1561-5405-2019-24-6-589-600 Zobrazit plný text záznamu