FAMCroNA: Fault Analysis in Memristive Crossbars for Neuromorphic Applications

Autor:	Dev Narayan Yadav, Phrangboklang Lyngton Thangkhiew, Kamalika Datta, Sandip Chakraborty, Rolf Drechsler, Indranil Sengupta
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Journal of Electronic Testing. 38:145-163
ISSN:	1573-0727 0923-8174
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b67335827174f6fb214eb03bc6911918 https://doi.org/10.1007/s10836-022-06001-2 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink