| Autor: |
Paul R. Bartholomew |
| Rok vydání: |
2013 |
| Předmět: |
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| Zdroj: |
Geostandards and Geoanalytical Research. 37:353-359 |
| ISSN: |
1639-4488 |
| Popis: |
This study provides a measurement of success rate of Raman spectroscopy for mineral identification, and a direct comparison of powder X-ray diffraction (PXRD) is provided by applying the same procedure for measuring its success rate against the identical set of samples. Consistent, standardised analytical procedures were applied to a set of fifty-five minerals, and a success score was assigned to the results of each analytical method for each sample. For each analytical method, an average success rate (on a scale of 0–100) was calculated from these success scores. The success rate measured for powder XRD is 89, while the success rate for Raman spectroscopy came to 77. As the most common analytical challenge in Raman spectroscopy is specimen photoluminescence (PL), an estimate of the impact of technological advances that would eliminate this interference is provided by recalculating the success rate after removing the samples that produced PL interference from consideration. The resulting no-PL success rate of 90 indicates that the success rate of Raman spectroscopy would be quite comparable to powder XRD if PL interference could be removed from Raman spectra. Cette etude fournit une mesure du taux de reussite de la spectroscopie Raman pour l'identification des mineraux. Une comparaison directe avec la diffraction de rayons X sur poudres (XRD) est fournie par l'application de la meme procedure pour mesurer le taux de succes de cette derniere pour le meme ensemble d'echantillons. Des procedures analytiques coherentes et normalisees ont ete appliquees a un ensemble de 55 mineraux et un score de reussite a ete affecte a des resultats de chaque methode d'analyse pour chaque echantillon. Pour chaque methode d'analyse un taux de reussite moyen (sur une echelle de 0 a 100) a ete calcule a partir de ces scores de reussite. Le taux de succes mesure pour la diffraction de rayons X sur poudres est de 89 alors que le taux de reussite pour la spectroscopie Raman est de 77. Sachant que le defi le plus commun pour l'analyse en spectroscopie Raman est la photoluminescence du specimen analyse (PL) une estimation de l'impact des progres technologiques qui permettraient d'eliminer cette interference est fournie en recalculant le taux de reussite apres avoir retire les echantillons qui ont produit des interferences PL. Le taux de reussite resultant de 90 indique que le taux de reussite de la spectroscopie Raman serait tout a fait comparable a celui de la diffraction de rayons X sur poudres si les interferences PL pouvaient etre supprimes des spectres Raman. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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