Refinement of extinction-affected X-ray reflection profile of textures

Autor:	S. Vassilev, Ivan V. Tomov
Rok vydání:	2008
Předmět:	Inorganic Chemistry Optics Materials science business.industry Extinction (optical mineralogy) X-ray Reflection (physics) General Materials Science Condensed Matter Physics business
Zdroj:	Zeitschrift für Kristallographie Supplements. 2008:219-225
ISSN:	0930-486X
DOI:	10.1524/zksu.2008.0028
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b5700ce6d025c4bc9f261626cf02c001 https://doi.org/10.1524/zksu.2008.0028 Zobrazit plný text záznamu