A Novel Charge Pumping Technique With Gate-Induced Drain Leakage Current

Autor:	Geon-Beom Lee, Jeong-Yeon Kim, Yang-Kyu Choi
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	IEEE Electron Device Letters. 44:709-712
ISSN:	1558-0563 0741-3106
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b51d7245281f04ffc76cce3fd9503c2e https://doi.org/10.1109/led.2023.3258454 Zobrazit plný text záznamu