XANES Studies of Zinc Tin Oxide Films Deposited by Atomic Layer Deposition: Revealing Process-Structure Relationships for Amorphous Oxide Semiconductors

Autor: Orlando Trejo, Tae H. Cho, Sami Sainio, Neil P. Dasgupta
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: The Journal of Physical Chemistry C. 127:338-349
ISSN: 1932-7455
1932-7447
DOI: 10.1021/acs.jpcc.2c05656
Databáze: OpenAIRE