Efficient test bitstream generation method for verification of HEVC decoders

Autor: Do-sun Hong, Soo-Ik Chae
Rok vydání: 2014
Předmět:
Zdroj: The 18th IEEE International Symposium on Consumer Electronics (ISCE 2014).
DOI: 10.1109/isce.2014.6884404
Databáze: OpenAIRE