Efficient test bitstream generation method for verification of HEVC decoders
Autor: | Do-sun Hong, Soo-Ik Chae |
---|---|
Rok vydání: | 2014 |
Předmět: | |
Zdroj: | The 18th IEEE International Symposium on Consumer Electronics (ISCE 2014). |
DOI: | 10.1109/isce.2014.6884404 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |