Applications and Metrology at Nanometer Scale 2

Autor:	Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Rok vydání:	2021
DOI:	10.1002/9781119818984
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b30ed9c10634844f32ca12a4fd722847 https://doi.org/10.1002/9781119818984 Zobrazit plný text záznamu