Guideline for Test Process Improvement of Test Organization Through Correlating TMMi with TPI NEXT

Autor: R. Young-Chul Kim, Young Bom Park, Kidu Kim
Rok vydání: 2013
Předmět:
Zdroj: KIPS Transactions on Software and Data Engineering. 2:823-828
ISSN: 2287-5905
DOI: 10.3745/ktsde.2013.2.12.823
Databáze: OpenAIRE