Guideline for Test Process Improvement of Test Organization Through Correlating TMMi with TPI NEXT
Autor: | R. Young-Chul Kim, Young Bom Park, Kidu Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2013 |
Předmět: | |
Zdroj: | KIPS Transactions on Software and Data Engineering. 2:823-828 |
ISSN: | 2287-5905 |
DOI: | 10.3745/ktsde.2013.2.12.823 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |