A Novel Very Low Power Leakage Factor Window for Image Processing Applications

Autor:	Gopireddy Palguna K.R., Arun Kumar Gande, Gopi Ram
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Geotechnical Engineering and Engineering Geology
Zdroj:	IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters. 20:1-5
ISSN:	1558-0571 1545-598X
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b054b85e1994ac383d8e4477f0a46f10 https://doi.org/10.1109/lgrs.2023.3234903 Zobrazit plný text záznamu