Strain gauge mapping of die surface stresses

Autor:	S.A. Gee, W.F. van den Bogert, V.R. Akylas, R.T. Shelton
Rok vydání:	2003
Zdroj:	Proceedings., 39th Electronic Components Conference.
DOI:	10.1109/ecc.1989.77769
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::afd08d581fc0d4b51b015f3630217bb5 https://doi.org/10.1109/ecc.1989.77769 Zobrazit plný text záznamu