Reactions in Thin Metal Films Bombarded by the High Intensity Electron Microscope Beam

Autor:	F. M. Berting, K. R. Lawless
Rok vydání:	1973
Zdroj:	Advances in X-Ray Analysis ISBN: 9781461399742
DOI:	10.1007/978-1-4613-9972-8_21
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::afa5fd67e028bbfc34ff7f842f4b0071 https://doi.org/10.1007/978-1-4613-9972-8_21 Zobrazit plný text záznamu