| Autor: |
E. Sparrer, K. H. Franke, T. Machleidt, Rico Nestler |
| Rok vydání: |
2008 |
| Předmět: |
|
| Zdroj: |
tm - Technisches Messen. 75:547-575 |
| ISSN: |
0171-8096 |
| Popis: |
Zusammenfassung Seit geraumer Zeit werden durch Forschergruppen an verschiedenen Stellen Anstrengungen unternommen, bildhafte Messdaten von Rasterkraftmikroskopen (AFM) mit dem aus der Bildverarbeitung verfügbaren Methodenrepertoire zu verbessern. Im Fall der Potenzialmessung nach der Kelvin-Methode (KFM) bieten sich aufgrund der linearen Zusammenhänge bei der Datenentstehung sehr gute Voraussetzungen, um die prinzipbedingt geringere laterale Auflösung der KFM-Messdaten durch Entfaltung zu erhöhen. Im Beitrag wird in diesem Zusammenhang ein adaptives freiheitsgradbeschränktes Bildmodell zur Verfahrensregularisierung vorgestellt. Derartige Modelle wurden von den Autoren bereits erfolgreich im Bereich der Restauration astronomischer Himmelsüberwachungsaufnahmen eingesetzt. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
