Pivot Point: The Key to TEM Automation

Autor: Matthew Olszta, Kevin Fiedler, Derek Hopkins, Kayla Yano, Christina Doty, Marjolein Oostrom, Sarah Akers, Steven R Spurgeon
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Microscopy and Microanalysis. 28:2920-2921
ISSN: 1435-8115
1431-9276
DOI: 10.1017/s1431927622010959
Databáze: OpenAIRE