Single Atom Identification of Barium by HAADF-STEM for the New Enriched Xenon Observatory (nEXO)

Autor: M. Chiu, D. Su, JB Warren
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: Microscopy and Microanalysis. 25:670-671
ISSN: 1435-8115
1431-9276
DOI: 10.1017/s1431927619004082
Databáze: OpenAIRE