Autor:	Youngsik Kim, Marcos A. Esparza, Zichan Wang, Nicholas Brar, Yingying Zhang, Daewook Kim, Heejoo Choi, Daniel Apai, Chuck Fellows, Allen Yi, Yuxin Cai, Geon Hee Kim, Hwanjin Choi, Woojong Yeo, Tom D. Milster
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Optical Manufacturing and Testing XIV.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ae456a77c866b1ef1b7674e32a84dc2c https://doi.org/10.1117/12.2633443 Zobrazit plný text záznamu