A Framework for Configurable Joint-Scan Design-for-Test Architecture

Autor:	Jaynarayan T. Tudu, Satyadev Ahlawat, Sonali Shukla, Virendra Singh
Rok vydání:	2021
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Journal of Electronic Testing. 37:593-611
ISSN:	1573-0727 0923-8174
DOI:	10.1007/s10836-021-05978-6
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aca3653c8f6103e9d3a628be6e452de3 https://doi.org/10.1007/s10836-021-05978-6 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink