GAN considering ERF for High-resolution Map Generation

Autor:	Gi Eon Lee
Rok vydání:	2019
Předmět:	Materials science business.industry Optoelectronics High resolution business
Zdroj:	Journal of KIISE. 46:122-130
ISSN:	2383-6296 2383-630X
DOI:	10.5626/jok.2019.46.2.122
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ac8b97529ac8ca55fbcf19cf701be5bd https://doi.org/10.5626/jok.2019.46.2.122 Zobrazit plný text záznamu