Alleviation of Self-Heating Effect in Top-Gated Ultrathin In2O3 FETs Using a Thermal Adhesion Layer

Autor:	Pai-Ying Liao, Krutarth Khot, Sami Alajlouni, Mike Snure, Jinhyun Noh, Mengwei Si, Zhuocheng Zhang, Ali Shakouri, Xiulin Ruan, Peide D. Ye
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	IEEE Transactions on Electron Devices. 70:113-120
ISSN:	1557-9646 0018-9383
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a9ab522980153a4082abd93f4b271e04 https://doi.org/10.1109/ted.2022.3221358 Zobrazit plný text záznamu