Magnetic Field Resilience of Three-Dimensional Transmons with Thin-Film Al/AlOx/Al Josephson Junctions Approaching 1 T
Autor: | J. Krause, C. Dickel, E. Vaal, M. Vielmetter, J. Feng, R. Bounds, G. Catelani, J. M. Fink, Yoichi Ando |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | Physical Review Applied. 17 |
ISSN: | 2331-7019 |
DOI: | 10.1103/physrevapplied.17.034032 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |