Magnetic Field Resilience of Three-Dimensional Transmons with Thin-Film Al/AlOx/Al Josephson Junctions Approaching 1 T

Autor: J. Krause, C. Dickel, E. Vaal, M. Vielmetter, J. Feng, R. Bounds, G. Catelani, J. M. Fink, Yoichi Ando
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Physical Review Applied. 17
ISSN: 2331-7019
DOI: 10.1103/physrevapplied.17.034032
Databáze: OpenAIRE