Low Capture Power At-Speed Test with Local Hot Spot Analysis to Reduce Over-Test

Autor:	Ankush Srivastava, Jais Abraham
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Test Conference (ITC).
DOI:	10.1109/itc50671.2022.00052
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a90dac9e48889649a227fc71a9bbbd59 https://doi.org/10.1109/itc50671.2022.00052 Zobrazit plný text záznamu