Direct Identification of Bulk Defects in Low-temperature GaAs Using First-principles STM Simulation for Efficient Terahertz Device Development
| Autor: | Mary Clare ESCAÑO, Tien Quang NGUYEN, Akihiro IZUMI, Masahiko TANI |
|---|---|
| Rok vydání: | 2023 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Vacuum and Surface Science. 66:4-9 |
| ISSN: | 2433-5843 2433-5835 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|