Electrical Characterization of Defects in Gate Dielectrics

Autor:	Dieter Schroder
Rok vydání:	2008
DOI:	10.1201/9781420043778.ch5
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a494474f0503db67aa0af14e11d3ab13 https://doi.org/10.1201/9781420043778.ch5 Zobrazit plný text záznamu