Comment on 'Unraveling the conduction mechanism of Al-doped ZnO films by valence band soft x-ray photoemission spectroscopy' [Appl. Phys. Lett. 86, 042104 (2005)]

Autor: Maurizio Sacchi, JOSE RAMOS-BARRADO, MARIA MERCEDES GABAS PEREZ
Rok vydání: 2005
Předmět:
Zdroj: Applied Physics Letters. 86:216101
ISSN: 1077-3118
0003-6951
DOI: 10.1063/1.1935759
Databáze: OpenAIRE