New Product Development: Design Risk Assessment

Autor:	Chung Yeh, Wen-Chin Liu, Chih-Lieh Lee
Rok vydání:	2017
DOI:	10.1142/9789813207271_0012
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a341c745668c17b2b066cdd563d00385 https://doi.org/10.1142/9789813207271_0012 Zobrazit plný text záznamu