In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation

Autor:	S. T. Vibbert, A. C. Watkins, J. V. D'Amico, M. W. McKinney, D. S. Vibbert, E. X. Zhang, D. R. Ball, T. D. Haeffner, M. L. Alles, J. S. Kauppila, L. W. Massengill
Rok vydání:	2022
Předmět:	Nuclear and High Energy Physics Nuclear Energy and Engineering Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Nuclear Science. 69:367-373
ISSN:	1558-1578 0018-9499
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9fedb15bd8e16850412e9fa52b9c5a4f https://doi.org/10.1109/tns.2021.3135415 Zobrazit plný text záznamu