Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Domovská stránka
Analysis of Staggered-Via Loss...
Jednotky
Navrhnout nákup titulu
Analysis of Staggered-Via Loss in Substrate Integrated Waveguide
Autor:
Vibha Rani Gupta
,
Sheelu Kumari
,
Shweta Srivastava
Rok vydání:
2020
Předmět:
Materials science
Field (physics)
Physics::Instrumentation and Detectors
business.industry
High Energy Physics::Lattice
020208 electrical & electronic engineering
020206 networking & telecommunications
02 engineering and technology
Substrate (electronics)
Physics::Classical Physics
Waveguide (optics)
Computer Science::Other
Computer Science Applications
Theoretical Computer Science
0202 electrical engineering
electronic engineering
information engineering
Optoelectronics
Condensed Matter::Strongly Correlated Electrons
Dielectric loss
Electrical and Electronic Engineering
business
Zdroj:
IETE Journal of Research
. 69:203-208
ISSN:
0974-780X
0377-2063
DOI:
10.1080/03772063.2020.1811785
Popis:
In this paper, loss due to staggered-via in SIW (Substrate Integrated Waveguide) is analyzed with the help of S-parameter responses and field diagrams. It is observed that staggered-via improves th...
Databáze:
OpenAIRE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9fcf586f58efb8e47d6a5d963bf5db11
https://doi.org/10.1080/03772063.2020.1811785
Zobrazit plný text záznamu
Jednotky
Popis
Exportovat záznam
Export to RIS
×
načítá se......