The characterisation of Si/Si1–x Ge x superlattices by X-ray techniques

Autor:	M A G Halliwell, C. G. Tuppen, C. J. Gibbings, M. H. Lyons
Rok vydání:	2021
Předmět:	Crystallography Materials science Superlattice X-ray
Zdroj:	Microscopy of Semiconducting Materials, 1987
DOI:	10.1201/9781003069621-96
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9d1b882b6ac89dcc2e24fcba2cb6d34b https://doi.org/10.1201/9781003069621-96 Zobrazit plný text záznamu