The Effect of Divergence Slit Configuration, Background Handling and Texture Effects on Quantitative Analysis of Amorphous and Crystalline SiO2-Fractions
Autor: | B. Ruedinger, R.X. Fischer |
---|---|
Rok vydání: | 1994 |
Předmět: | |
Zdroj: | Materials Science Forum. :169-174 |
ISSN: | 1662-9752 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |