Dépôt et calibration de multicouches pour l'optique XUV dans la gamme 10–30 nm

Autor: Françoise Bridou, X. Song, Solange Hubert, Mourad Idir, F. Delmotte, Ph. Troussel, Arnaud Jérôme, Ph. Zeitoun, Marie-Françoise Ravet, S. Boujdayane
Rok vydání: 2003
Předmět:
Zdroj: Journal de Physique IV (Proceedings). 108:255-258
ISSN: 1155-4339
DOI: 10.1051/jp4:20030638
Popis: Nous presentons dans une premiere partie une etude de miroirs interferentiels multicouches composes de divers materiaux pour des longueurs d'onde de l'ordre de 30 nm. Les quatre systemes etudies, Mo/Si recouvert de Si ou de B 4 C, B 4 C/Si et Mo/B 4 C/Si/B 4 C, presentent des pouvoirs reflecteurs de l'ordre de 24% autour de 30 nm. Les multicouches B 4 C/Si et Mo/B 4 C/Si/B 4 C presentent une meilleure selectivite que les multicouches Mo/Si. Sur ces dernieres, la couche de protection en B 4 C ne permet pas d'ameliorer la stabilite en temperature, par contre l'ajout de B 4 C aux interfaces ameliore considerablement cette stabilite. Dans une seconde partie, nous presentons la realisation et la calibration de lames separatrices a 13,9 nm pour un interferometre de Michelson. Les lames separatrices que nous avons developpees presentent des proprietes symetriques : les reflectivites de chaque face ne different que de 6%. Le produit reflectivite - transmission de ces lames peut etre optimise au-dessus de 2% pour une longueur d'onde fixee dans la gamme 12,6-15,5 nm.
Databáze: OpenAIRE